Unterschied zwischen AFM und STM

AFM vs STM

AFM bezieht sich auf das Rasterkraftmikroskop und STM bezieht sich auf das Rastertunnelmikroskop. Die Entwicklung dieser beiden Mikroskope gilt als Revolution im atomaren und molekularen Bereich.

Wenn Sie von AFM sprechen, werden präzise Bilder aufgenommen, indem Sie eine Spitze im Nanometerbereich über die Bildoberfläche bewegen. Das STM erfasst Bilder mittels Quantentunneling.

Von den beiden Mikroskopen wurde das Scanning Tunneling Microscope als erstes entwickelt.

Im Gegensatz zum STM nimmt die Sonde einen direkten Kontakt mit der Oberfläche auf oder berechnet die beginnende chemische Bindung im AFM. Die STM-Bilder werden indirekt durch Berechnung des Quantengradtunnels zwischen Sonde und Probe berechnet.

Ein weiterer Unterschied ist, dass die Spitze im AFM die Oberfläche leicht berührt, während sie bei STM in einem geringen Abstand von der Oberfläche gehalten wird.

Im Gegensatz zum STM misst das AFM nicht den Tunnelstrom, sondern nur die kleine Kraft zwischen der Oberfläche und der Spitze.

Es wurde auch gesehen, dass die AFM-Auflösung besser ist als der STM. Daher ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet. Wenn man von der Abhängigkeit zwischen Kraft und Abstand spricht, ist das AFM komplexer als das STM.

Wenn das Rastertunnelmikroskop normalerweise für Leiter geeignet ist, ist das Atomic Force-Mikroskop sowohl für Leiter als auch für Isolatoren anwendbar. Das AFM eignet sich gut für flüssige und gasförmige Umgebungen, während STM nur im Hochvakuum arbeitet.

Im Vergleich zu STM bietet das AFM eine direktere Höhenmessung mit höherem topografischem Kontrast und bessere Oberflächeneigenschaften.

Zusammenfassung

1. Das AFM erfasst präzise Bilder, indem es eine Spitze im Nanometerbereich über die Bildoberfläche bewegt. Das STM erfasst Bilder mittels Quantentunneling.

2. Die Sonde kontaktiert die Oberfläche direkt oder berechnet die beginnende chemische Bindung im AFM. Die STM-Bilder werden indirekt durch Berechnung des Quantengradtunnels zwischen Sonde und Probe berechnet.

3. Die Spitze des AFM berührt die Oberfläche sanft die Oberfläche, während bei STM die Spitze in geringem Abstand von der Oberfläche gehalten wird.

4. Die AFM-Auflösung ist besser als beim STM. Daher ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet.

5. Wenn das Rastertunnelmikroskop normalerweise für Leiter geeignet ist, ist das Atomic Force-Mikroskop sowohl für Leiter als auch für Isolatoren anwendbar.

6. Das AFM eignet sich gut für Umgebungen mit Flüssigkeiten und Gasen, während STM nur im Hochvakuum arbeitet.

7. Von den beiden Mikroskopen wurde das Scanning Tunneling Microscope als erstes entwickelt.